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IC電氣特性測試數(shù)字源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準確度提升至±0.03%面議2026-02-25 -
GaN SiC三代半功率器件測試設(shè)備
PMST系列功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是武漢普賽斯正向設(shè)計、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)，是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計、輕松升級擴展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬面議2026-02-25 -
柔性傳感器電性能測試VI源表
普賽斯儀表攜手業(yè)內(nèi)知名廠商共同打造的柔性電子材料測試系統(tǒng),通過組合不同動作的測試夾具,可以模擬扭、轉(zhuǎn)、彎、折、卷等5種基本測試動作, 11個基礎(chǔ)模擬測試動作,實現(xiàn)一機多用,讓柔性測試標準化。不僅可以測試柔性材料的折、彎、扭、拉、卷等五種基本動作,而且可以進行柔性材面議2026-02-25 -
半導體分立器件電性能iv測試系統(tǒng)
半導體分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)；通常半導體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，還占面議2026-02-25 -
數(shù)字源表用于光伏測試系統(tǒng)
武漢普賽斯推出的精密型數(shù)字源表（SMU）是對太陽能電池和各種其他器件的I-V特性進行表征的蕞佳解決方案。其寬廣的電流和電壓測量范圍，可以為科研及生產(chǎn)制造提供著越的測量性能。結(jié)合太陽光模擬器以及磚用的上位機軟件，支持自動掃描I-V特性曲線以及開路電壓、短路電流、蕞面議2026-02-25 -
IC芯片電特性測試數(shù)字源表
IC芯片電特性測試數(shù)字源表認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對標2400、2450、2611、2601B、2651面議2026-02-25 -
wat半導體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀
SPA-6100wat半導體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材面議2026-02-25 -
晶圓/芯片微弱電流測試VI源表
武漢普賽斯儀表晶圓/芯片微弱電流測試VI源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作S系列源表 應(yīng)用 分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、面議2026-02-25 -
igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備
普賽斯igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢18140663476 測試項目 集面議2026-02-25 -
IGBT|SiC功率半導體器件測試設(shè)備
PMST系列IGBT|SiC功率半導體器件測試設(shè)備是武漢普賽斯正向設(shè)計、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)，是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計、輕松升級擴展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGB面議2026-02-25 -
脈沖IV特性測試數(shù)字源表
PXOOB系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達30A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者面議2026-02-25 -
晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀
晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀優(yōu)勢： IV、CV一鍵測；一體機，支持遠程指令控制；支持三同軸接探針臺 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試；詳詢一八一四零六六三四七六； 產(chǎn)品特點： 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力； 測量精度高,全量程下可面議2026-02-25 -
國產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線掃描儀
國產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線掃描儀認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯S系列源表標準的SCPI指令集，U秀的性價比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，詳詢一八一四零六六三四七六 數(shù)字源表基本功能 集多種功能為一體的精密測量儀器，主要是測量電氣性能 SMU可以當電源,面議2026-02-25 -
大功率分立器件測試設(shè)備靜態(tài)參數(shù)分析儀
普賽斯分立器件靜態(tài)測試系統(tǒng)集多種測量和分析功能一體，可精準測量功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達10KV,電流可高達6KA。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性，uΩ級電阻，pA級電流精準面議2026-02-25 -
2通道數(shù)字源表雙通道源表
2通道數(shù)字源表雙通道源表特點 支持直流、脈沖、掃描及列表輸出 5.1寸觸摸顯示屏全圖形化操作 測試范圍廣，高至300V低至1pA 最小脈沖寬度200μs 準確度為0.03%/0.1% 四象限工作（源和阱） 支持USB存儲、一鍵導出報告 多種通信接口RS-232/GPIB/LAN面議2026-02-25 -
雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表
雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表優(yōu)勢 ? 性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮。A(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量面議2026-02-25 -
sic mos靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)igbt檢測機
普賽斯PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、 BJT、IGBT，以及SiC第三代半導體等）的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性、μΩ級導通電阻精確測量、nA級漏電流測量能力等特點。支持高壓模式下功率器件結(jié)電容面議2026-02-25 -
高精度國產(chǎn)DP300B型雙通道數(shù)字源表
產(chǎn)品簡介 DPX00B雙通道高精度臺式脈沖源表是在單通道脈沖臺式源表基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，單通道最大輸出電壓達300V，最大脈沖輸出電流達30A，支持四象限工作，2個通道可獨立或組合工作。 DPX00B雙面議2026-02-25 -
led漏電流測試高精度源表
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓面議2026-02-25 -
高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
為應(yīng)對各行各業(yè)對IGBT的測試需求，武漢普賽斯正向設(shè)計、精益打造了一款高精密電壓-電流的IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，可提供IV、CV、跨導等豐富功能的綜合測試，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計、輕松升級擴展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁面議2026-02-25
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