半導(dǎo)體芯片器件參數(shù)分析儀ivcv曲線測(cè)試機(jī)

SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益 打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng)，具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測(cè)試，旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計(jì)以及先進(jìn)工藝的開發(fā)，具有著越的測(cè)量效率與可靠性?；谀K化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要，靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升級(jí)。產(chǎn)品支持蕞高1200V電壓、30A大電流、1pA小電流分辨率的測(cè)量，同時(shí)檢測(cè)1kHz至2MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測(cè)量。

SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件，支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作，能夠從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個(gè)過程，實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征；也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測(cè)試需求。詳詢一八一四零六六三四七六

產(chǎn)品特點(diǎn)

30μV-1200V，1pA-30A寬量程測(cè)試能力

測(cè)量精度高，蕞高可達(dá)0.1%



內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序，直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便

自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、 數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重新布線

供靈活的夾具定制方案，兼容性強(qiáng)

免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集





典型應(yīng)用：

納米、柔性等材料特性分析；


二極管；


MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；


第三代半導(dǎo)體材料/器件；


有機(jī)OFET器件；


LED、OLED、光電器件；

半導(dǎo)體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測(cè)量；

太陽(yáng)能電池；

非易失性存儲(chǔ)設(shè)備；

失效分析；