轉(zhuǎn)讓二手日本NIDEK平坦度測(cè)試儀FT-17
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劉紅蘭
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轉(zhuǎn)讓二手日本NIDEK平坦度測(cè)試儀FT-17
品牌NIDEK
貨
裝修及施工內(nèi)容安裝工程
類型：光學(xué)儀器
品牌：NIDEK
型FT-17
新舊程度：9成新
設(shè)備所在地：廣東深圳
設(shè)備生產(chǎn)產(chǎn)地：日本
產(chǎn)品數(shù)量：1
“NIDEK平坦度測(cè)試儀FT-17”的詳細(xì)描述NIDEK平坦度測(cè)試儀制造的平坦度測(cè)試儀在國(guó)際上享有盛譽(yù)，被半導(dǎo)體晶片加工廠家廣泛使用。
NIDEK FT-17平坦度測(cè)試儀功能簡(jiǎn)介
lt！--[if ！supportLists]--gt一，lt！--[endif]--gtFT-17是130mm以下各類晶片平坦度測(cè)試裝置，該裝置采用激光斜射干涉技術(shù)
lt！--[if ！supportLists]--gt二，lt！--[endif]--gt可設(shè)定的干涉條紋。
lt！--[if ！supportLists]--gt三，lt！--[endif]--gt接入標(biāo)準(zhǔn)的解析裝置，以表示各類晶片的平面度。測(cè)定結(jié)果，可用各種測(cè)定值，等高線圖，俯視圖，斷面圖等圖表示。
lt！--[if ！supportLists]--gt四，lt！--[endif]--gt無(wú)須校準(zhǔn)
lt！--[if ！supportLists]--gt五，lt！--[endif]--gt以專用解析裝置控制程序使操作變得容易
NIDEK FT-17平坦度測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
lt！--[if ！supportLists]--gt1，lt！--[endif]--gt測(cè)定方法：光波干涉方法（傾斜入射）
lt！--[if ！supportLists]--gt2，lt！--[endif]--gt光源：半導(dǎo)體激光
lt！--[if ！supportLists]--gt3，lt！--[endif]--gt樣片尺寸：130mm以下，但是平坦度在100mm以下
lt！--[if ！supportLists]--gt4，lt！--[endif]--gt樣片厚度：2000um以下（平坦度測(cè)定以下）但是承受臺(tái)大10mm、其他厚度請(qǐng)以其他方式商談
lt！--[if ！supportLists]--gt5，lt！--[endif]--gt樣片的種類：晶片（硅、化合物、酸化物、玻璃）金屬片、磁碟（鋁、玻璃）模具等 鏡面及非鏡面（除反射率低的非鏡面）
lt！--[if ！supportLists]--gt6，lt！--[endif]--gt樣片的傾斜角度：比垂直向前傾斜8度
lt！--[if ！supportLists]--gt7，lt！--[endif]--gt干涉計(jì)設(shè)定感度線距
lt！--[if ！supportLists]--gt8，lt！--[endif]--gt測(cè)定范圍：線距感光的30倍（線距狀況、有比鏡片尺寸等30倍以下的場(chǎng)合）
lt！--[if ！supportLists]--gt9，lt！--[endif]--gt攝像光學(xué)比：3倍以上
lt！--[if ！supportLists]--gt10， lt！--[endif]--gt電源：AC100V
2）確認(rèn)收貨前請(qǐng)仔細(xì)核驗(yàn)產(chǎn)品質(zhì)量，避免出現(xiàn)以次充好的情況。
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