BH分析儀二極管測(cè)試儀二手儀器價(jià)格

價(jià)格面議2023-06-23 11:52:40
  • 深圳市新耀德電子儀器有限公司
  • 磁性材料分析儀
  • IGBT測(cè)試儀,諧波功率分析儀,半導(dǎo)體特性測(cè)試儀,三極管測(cè)試儀
  • 曾廣文
  • 13430798991(廣東深圳)
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深圳市新耀德電子儀器有限公司

注冊(cè)時(shí)間:2023-05-25

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介子分析儀 SY-8219 品牌 Agilent/安捷倫
工作溫度 常溫 顯示方式 數(shù)字式
晶體管 CS-3100 類型 多參數(shù)測(cè)試儀

BH分析儀二極管測(cè)試儀二手儀器價(jià)格

二手CS3200日本IWATSU CS-3300半導(dǎo)體特性曲線圖示儀,
半導(dǎo)體特性曲線圖示儀!適用于二極管,晶體管 IGBT,場(chǎng)效應(yīng)管 MOS-FET, 可控硅 SCR,達(dá)林頓陣列,光電耦合,壓變電阻 VARISTOR,繼電器 RELAY 等半導(dǎo)體器件反向 恢復(fù)特性,短路特性,雪崩測(cè)試,結(jié)電容/電阻測(cè)試,漏電參數(shù),擊穿參數(shù),增益參數(shù),導(dǎo) 通參數(shù),混合參數(shù),電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。


日本IWATSU CS-3300半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-3100,CS-3200,(符合 UL 規(guī)格)

非常適合測(cè)量不同類型半導(dǎo)體(包括IGBT、MOSFET、晶體管和二極管)的特性

zui大峰值電壓:3000 V(高電壓模式,適合所有型號(hào))

zui大峰值電流:1000 A(CS-3300高電流模式)

所有型號(hào)均支持漏電流(LEAKAGE)測(cè)試模式(光標(biāo)分辨率:1 pA)

USB接口(保存屏幕圖像和設(shè)置條件)

磁場(chǎng)信號(hào)檢測(cè) 無感應(yīng)電阻器兩端電壓降法最大容許電流±6A
磁通密度信號(hào)檢測(cè) 感應(yīng)電壓檢測(cè)線圈兩端電壓檢測(cè)法
最大容許電壓±200V
數(shù)字化儀 分辨率 16bits (8192points / cycle)
樣品連接方法 2繞線法或1繞線法
顯示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素
電源 100V 至 240V50/60Hz 功耗約 130VA(MAX)
尺寸 (mm), 質(zhì)量 420W×266H×480D(不含突起部),主體約12.5kg
外部存儲(chǔ)器 USB(數(shù)據(jù)存儲(chǔ))
配件 POD 蓋、交流耦合模塊、功率放大器電纜 (BNC-BNC)、OSC 電纜 (BNC-SMA)、電源線、用戶指南、用戶手冊(cè) (CD)

半導(dǎo)體特性曲線圖示儀 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (巖崎),
產(chǎn)品特點(diǎn)
顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏
正確測(cè)試半導(dǎo)體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管的最佳解決方案
采用電路圖模式顯示內(nèi)部的配線狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測(cè)試時(shí)的誤操作(附圖)
WAVE模式: 能確認(rèn)實(shí)際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)
可以像示波器一樣通過觀察模塊上實(shí)際印加電流和電壓的波形來確定脈寬和實(shí)際測(cè)試點(diǎn) (Timing)
可通關(guān)確認(rèn)實(shí)際波形, 適時(shí)調(diào)整脈寬和測(cè)試點(diǎn)
避免示波器的探棒影響, 可確認(rèn)實(shí)時(shí)的異常信號(hào)
可非常容易地確認(rèn)模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況
可實(shí)現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測(cè)試 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
標(biāo)配LAN和USB接口
產(chǎn)品功能
電子電力元件或器件測(cè)試波形特性的功能顯示 (附圖)
配備選件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實(shí)現(xiàn)電子電力器件如SiC和GaN等的電容測(cè)試
在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動(dòng)與掃描電容測(cè)試
曲線圖示儀的測(cè)試適配器可用于各種器件封裝類型
測(cè)試參數(shù)包括:
Cies, Ciss (輸入電容)
Coss (輸出電容)
Cres, Crss (反向傳輸電容)
Ct (端子間的電容)
Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計(jì)算)
Rg (柵極電阻)
可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
具有外部聯(lián)鎖功能的恒溫箱高低溫試驗(yàn)
與電腦全自動(dòng)化的完美結(jié)合
與電腦全自動(dòng)化的完美結(jié)合
CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件 (選件)
通過對(duì)主機(jī)的遠(yuǎn)程控制, 可實(shí)現(xiàn)各種自動(dòng)測(cè)試的軟件. 傳統(tǒng)上通過曲線圖示儀難以進(jìn)行的疲勞測(cè)試. 加熱實(shí)驗(yàn)或同時(shí)控制恒溫箱進(jìn)行多溫度點(diǎn)實(shí)驗(yàn)都可使用本軟件來實(shí)現(xiàn) (附圖)
USB 存儲(chǔ)器
圖像: 數(shù)據(jù)和設(shè)置條件
格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可選擇為黑色或白色, 彩色或單色)
波形數(shù)據(jù): 文本文件和二進(jìn)制文件
遠(yuǎn)程控制工具
如因保密需要而沒法使用USB存儲(chǔ)器時(shí), 可以通過安裝在PC的遠(yuǎn)程控制工具進(jìn)行數(shù)據(jù)存取
以太網(wǎng)

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