半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)的基本原理是什么?

半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)的基本原理是什么?

半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)是一種磁電效應(yīng)。當(dāng)電流垂直于外部磁場通過導(dǎo)體時，導(dǎo)體垂直于磁場方向的兩個面與電流之間會產(chǎn)生電位差。這種電位差稱為霍爾電位差。導(dǎo)體將載流子運動在外加磁場中，由于洛倫茲力的作用而使軌跡發(fā)生偏差，并使兩側(cè)的電荷在物質(zhì)上積累，形成垂直于電流方向的電場，使載流子受洛倫茲力和電斥力平衡，從而在兩側(cè)建立穩(wěn)定的霍爾電壓電位差。正交電場與電流強(qiáng)度與磁場強(qiáng)度的乘積之比即為半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)。平行電場與電流強(qiáng)度之比就是電阻率。

因此，對于已知半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)的導(dǎo)體，通過已知的電流方向和大小，測量導(dǎo)體兩側(cè)霍爾電位差的方向和大小，就可以得到該導(dǎo)體磁場的方向和大小。半導(dǎo)體是一種在室溫下電導(dǎo)率介于導(dǎo)體和絕緣體之間的材料。半導(dǎo)體廣泛應(yīng)用于無線電、電視和溫度測量。例如，二極管是一種由半導(dǎo)體制成的器件。半導(dǎo)體生產(chǎn)過程包括晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試。

所謂封裝測試其實就是封裝后測試，對所制造的半導(dǎo)體元器件的結(jié)構(gòu)和電氣功能進(jìn)行確認(rèn)，以確保半導(dǎo)體元器件滿足系統(tǒng)要求的過程稱為封裝后測試。半導(dǎo)體是一種導(dǎo)電性從絕緣體到導(dǎo)體都可以控制的材料。無論從技術(shù)還是經(jīng)濟(jì)發(fā)展的角度來看，半導(dǎo)體的重要性都是巨大的。

分立器件測試系統(tǒng)由:電磁鐵、高精度電源、連接電纜、高精度恒流源、高精度電壓表、高斯表、標(biāo)準(zhǔn)樣品、樣品安裝架、系統(tǒng)軟件組成。為該儀器系統(tǒng)專門研制的DX-320效應(yīng)儀集成了恒流源、6位半微伏表和霍爾測量的復(fù)雜開關(guān)繼電器——開關(guān)，大大減少了實驗的連接和操作。Dx-320可作為單個恒流源和微伏計使用。它用于測量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)等重要參數(shù)，而要了解半導(dǎo)體材料的電學(xué)特性，事先對這些參數(shù)進(jìn)行控制。因此，半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)測試系統(tǒng)是了解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要工具。實驗結(jié)果由軟件自動計算。該方法可同時得到散體載流子濃度、板狀載流子濃度、遷移率、電阻率和半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng))、磁電阻等。