全朔州儀器/儀表信息
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吉林50米跑測試儀器
短跑測試儀自動測試50米100米200米400米跑時間，采用紅外測試桿，自動測試短跑時間，多跑道同時測試，主機采用工控級別CONTEX-M3CPU，直接對底層硬件控制,完全知識產(chǎn)權獨立開發(fā)。封閉32位私有加密操作系統(tǒng)，保證系統(tǒng)的穩(wěn)定安全，避免遭受公網(wǎng)病毒干擾。閉源系統(tǒng)，秒開機，非150002025-07-18 -
樂康儀器,往返跑測試儀
反應人體在兩端往返的肌耐力及瞬間爆發(fā)力 具有計時、計次功能，標配是2人同測，最多可擴展為8人同時進行測試 測試起跑方式：主機發(fā)令聲 折返檢測方式：紅外探頭感應 主要技術參數(shù)： 測量范圍：0～59分59秒或0次～50次 分度值：0.1S 精度：±1.5% 折返次數(shù)：可設定 折返距離：88002025-07-03 -
河南省立定跳遠測試儀樂康儀器
用紅外線非接觸自動測量立定跳遠的距離，反映人體下肢爆發(fā)力水平采用紅外線非接觸傳感器測量原理，測試數(shù)據(jù)準確，經(jīng)久耐用主機采用工控級別CONTEX-M3CPU，直接對底層硬件控制,完全知識產(chǎn)權獨立開發(fā)。封閉32位私有加密操作系統(tǒng)，保證系統(tǒng)的穩(wěn)定安全，避免遭受公網(wǎng)病毒干擾。150002025-07-02
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源表搭建整流二極管的性能測試實驗
源表搭建整流二極管的性能測試實驗認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯實驗平臺以工程教育專業(yè)認證為引領參與高校專業(yè)建設，以信息化引領構建學習者為中心的教育生態(tài)，培養(yǎng)集成電路硬件測試人才。為學生提供豐富的教學資源以及貼近現(xiàn)實的產(chǎn)業(yè)環(huán)朔州面議2026-02-25 -
替代2651國產(chǎn)大電流數(shù)字源表
HCP系列大電流脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，最大脈沖電流達100A，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。大電流源表適用于各行各業(yè)使用者，特別適合現(xiàn)代半導體朔州面議2026-02-25 -
8通道數(shù)字源表測試壓敏電阻
8通道數(shù)字源表測試壓敏電阻認準武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六 氣敏電阻測試 阻值測試本質(zhì)上是FIMV（加電流測電壓）或FVMI（加電壓測電流），獲取IV曲線后計算阻值。 普賽斯源表具有豐富的電壓電流量程： 電壓范圍0.3mV~300V，電流范圍100朔州面議2026-02-25 -
高精度臺式數(shù)字源表S系列國產(chǎn)電流源
高精度臺式數(shù)字源表S系列國產(chǎn)電流源優(yōu)勢 ? 性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮。A防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更朔州面議2026-02-25 -
功率半導體測試電源高壓程控電源
功率半導體測試電源高壓程控電源具有輸出及測量電壓高（3500V）、能輸出及測量微弱電流信號（1nA）的特點。設備工作在第一象限，輸出及測量電壓0~3500V，輸出及測量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式，同時支持豐富的I-V掃描模式。詳詢18140663476最大輸出功率：350W，3500朔州面議2026-02-25 -
直流特性IV曲線SMU數(shù)字源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準確度提升至±0.03%朔州面議2026-02-25 -
半導體電學參數(shù)測試設備iv+cv測試機
半導體電學參數(shù)測試設備iv+cv測試機優(yōu)勢： IV、CV一鍵測；一體機，支持遠程指令控制；支持三同軸接探針臺 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試;詳詢18140663476 SPA-6100半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高朔州面議2026-02-25 -
高功率源表30A直流100A脈沖
HCP系列大電流臺式脈沖源表具備直流和脈沖輸出能力，最大脈沖輸出電流100A，最大輸出電壓100V，支持四象限工作，輸出及測量精度均可達0.1%，可廣泛用于功率MOS測試、肖特二極管測試、整流橋堆測試及太陽能電池模組測試等。詳詢一八一四零六六三四七六 應用 ?納米材料朔州面議2026-02-25 -
功率mos管電性能分析IV測試大電流源表
P系列功率mos管電性能分析IV測試大電流源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達10A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。P系列源表適朔州面議2026-02-25 -
基于數(shù)字源表的高校微電子教學實驗平臺
基于數(shù)字源表的高校微電子教學實驗平臺特色： 1、外觀簡潔緊湊集成度高 2、通用開放型儀表平臺 以數(shù)字源表(SMU)為核心，覆蓋所有材料器件的直流特性測試；示波器、信號源、數(shù)字電橋等通用儀表完成動態(tài)參數(shù)測試實驗。 3、模塊化設計實驗夾具盒 4、引入集朔州面議2026-02-25 -
數(shù)字源表助力工程師提取半導體器件IV電性能參數(shù)
半導體分立器件是組成集成電路的基礎，包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應管等。 直流 I-V 測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲線，來決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相朔州面議2026-02-25 -
高精度源表IV測試憶阻器直流特性
憶阻器基礎性能研究測試 憶阻器件的評估,一般包括直流特性、脈沖特性與交流特性測試,分析器件在相應的直流、脈沖與交流作用下的憶阻特性,以及針對憶阻器件的保持力、穩(wěn)定性等非電學特性進行測量。 直流l-V特性測試 不同極性、不同大小的電壓(電流)激勵會朔州面議2026-02-25 -
大電流脈沖源表
P系列功率mos管I-V電性能測試大電流脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達10A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。P系列源表朔州面議2026-02-25 -
MEMS氣體傳感器測試系統(tǒng)
通常，氣體傳感器 I-V 特性測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而，由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，還占用過多測試臺的空間。而且，使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作，有更朔州面議2026-02-25 -
半導體電學特性測試系統(tǒng)CV+IV測試儀
SPA-6100半導體電學特性測試系統(tǒng)CV+IV測試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料朔州面議2026-02-25 -
寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體參數(shù)分析儀
寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體參數(shù)分析儀特點： 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力； 測量精度高,全量程下可達0.03%精度； 內(nèi)置標準器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便； 自動實時參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)； 在CV和IV測量之間快速切換而無需重朔州面議2026-02-25 -
半導體特性測試儀IV曲線掃描儀
半導體特性測試儀IV曲線掃描儀認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測試方案?；詳詢一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應用朔州面議2026-02-25
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