熒光X射線膜厚分析儀(FT110) 鍍層厚度分析儀
面議元2023-01-19 08:29:46
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尹光日
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| 類別 | 黃頁 儀器儀表網(wǎng) | 品牌 | SEIKO/精工 |
| 型號 | FT110A | 加工定制 | 否 |
| 電源電壓 | 220 | 顯示方式 | 多種可以設定 |
| 來源 | 經(jīng)紀人 | ||
熒光X射線膜厚分析儀(FT110) 鍍層厚度分析儀
產(chǎn)品說明：1.即放即測。2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量。3.可無標樣測量。4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置。產(chǎn)品特點：1.?通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大提高樣品定位的操作性。?
2.?微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。?
3.?多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。?
4.?廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。?
5.?對應大型印刷線路板（選配） 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。?
6.?低價位 與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。產(chǎn)品參數(shù)：檢測器 比例計數(shù)管X射線源 小型空冷式X射線管 準直器 0.1、0.2mmφ2種樣品觀察 CCD攝像頭樣品臺移動量 250（X）×200（Y）mm樣品大高度 150mm
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