為什么要做無(wú)損檢測(cè)?

　　無(wú)損檢測(cè)是指借助現(xiàn)代技術(shù)和設(shè)備，利用熱、聲、光、電的變化，以及材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異?；蛉秉c(diǎn)引起的磁等反應(yīng)，在不損害或影響試件使用性能的情況下，對(duì)試件內(nèi)部組織狀態(tài)和缺點(diǎn)的種類、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、大小、分布及變化進(jìn)行分析的物理或化學(xué)方法。無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，即無(wú)損檢測(cè)，是一種在不破壞被測(cè)物質(zhì)原有狀態(tài)和化學(xué)性質(zhì)的情況下，獲取與被測(cè)物質(zhì)質(zhì)量有關(guān)的物理化學(xué)信息，如含量、性質(zhì)或成分等的檢驗(yàn)方法。

　　為什么要做無(wú)損檢測(cè)?

　　無(wú)損檢測(cè)是發(fā)現(xiàn)安全隱患較直接有效的方法之一。較大的特色是不會(huì)損傷被測(cè)對(duì)象，靈敏度高。它可以檢測(cè)肉眼無(wú)法觀察到的小缺點(diǎn)和內(nèi)部缺點(diǎn)。

　　無(wú)損檢測(cè)探傷設(shè)備主要有以下四種:射線探傷(RT)、超聲波探傷(UT)、磁粉探傷(MT)、液體滲透探傷(PT)。

　　在四種無(wú)損檢測(cè)設(shè)備中，較先進(jìn)的是X射線檢測(cè)。X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的主要特色是高分辨率、高清晰度;小零件檢驗(yàn);系統(tǒng)集成度高;檢測(cè)精度高，能發(fā)現(xiàn)小缺點(diǎn);測(cè)試結(jié)果圖像化，方便我的測(cè)試工程師測(cè)試。

　　x射線探傷是一種利用射線的穿透性和線性進(jìn)行探傷的方法。雖然這些射線不可像可見(jiàn)光一樣被肉眼直接檢測(cè)到，但它們可以使攝影底片變得敏感，也可以被特殊的器具接收到。常用同位素發(fā)射的X射線和γ射線進(jìn)行探傷，分別稱為X射線探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(guò)一種物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線的強(qiáng)度減弱得越厲害，即能穿過(guò)該物質(zhì)的射線強(qiáng)度變小。這時(shí)，如果用照相底片來(lái)接收光線，底片的感光度會(huì)小一些。如果用儀器接收信號(hào)，得到的信號(hào)會(huì)很弱。