江漢儀器/儀表

江漢儀器/儀表信息

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  • SMU電流模塊

    SMU電流模塊

    SMU電流模塊認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測試方案?;詳詢一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應用優(yōu)勢： 1、多功能
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    2026-01-15
  • 半導體分立器件測試設備參數(shù)分析源表

    半導體分立器件測試設備參數(shù)分析源表

    半導體分立器件泛指二極管、三極管等具有單一功能的半導體元器件，用于電力電子設備的整流、穩(wěn)壓、開關、混頻等電路中，是構成電力電子變化裝置的核心器件之一，在消費電子、汽車電子、電子儀器儀表、工業(yè)及自動化控制、計算機及周邊設備、網(wǎng)絡通訊等眾多國民經(jīng)濟領域均有廣
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    2026-01-15
  • 半導體芯片測試設備IV曲線掃描儀器

    半導體芯片測試設備IV曲線掃描儀器

    眾所周知，半導體芯片測試設備IV曲線掃描儀器應用的專業(yè)領域十分廣泛，分別有：微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學與工程、材料與能源、電子科學與工程、光電信息與能源工程等等等... 數(shù)字源表作為電學測量的常用儀器，在高校和研究所的相關實驗室內幾
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    2026-01-15
  • 大電流脈沖源表100A直流源表

    大電流脈沖源表100A直流源表

    HCP系列大電流脈沖源表100A直流源表具備直流和脈沖輸出能力，最大脈沖輸出電流100A，最大輸出電壓100V，支持四象限工作，輸出及測量精度均可達0.1%，可廣泛用于功率MOS測試、肖特二極管測試、整流橋堆測試及太陽能電池模組測試等。詳詢一八一四零六六三四七六； 應用
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    2026-01-15
  • led&二極管反向漏電流測試設備

    led&二極管反向漏電流測試設備

    led&二極管反向漏電流測試設備測試項目 集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat 集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges 柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th) 輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容 續(xù)流二極管壓降
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    2026-01-15
  • 半導體器件IV+CV測試儀

    半導體器件IV+CV測試儀

    半導體器件IV+CV測試儀認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測試方案?，詳詢一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應用優(yōu)勢：
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    2026-01-15
  • 功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表

    功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表

    PXOOB系列功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達30A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源
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    2026-01-15
  • 寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體參數(shù)分析儀

    寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體參數(shù)分析儀

    寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體參數(shù)分析儀特點： 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力； 測量精度高,全量程下可達0.03%精度； 內置標準器件測試程序，直接調用測試簡便； 自動實時參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)； 在CV和IV測量之間快速切換而無需重
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    2026-01-15
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  • 半導體芯片器件參數(shù)分析儀ivcv曲線測試機

    半導體芯片器件參數(shù)分析儀ivcv曲線測試機

    SPA6100半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益 打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研究、半導體
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    2026-01-22
  • 100pA-1A微電流數(shù)字源表

    100pA-1A微電流數(shù)字源表

    100pA-1A微電流數(shù)字源表特點： 同時精確提供和測量電壓和/或電流； 同步測量，減少測試時間 提供和測量非常廣的電流和電壓； 電壓可達300mV-300V,電流達100nA-1A 支持運行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產(chǎn)測試速度； 序列測試，簡
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    2026-01-15
  • 替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型

    替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型

    替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型認準武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六，普賽斯S型數(shù)字源表使用直觀的觸摸屏控制和圖標化操作界面，令新用戶通過簡單操作快速獲取測試結果，大大縮減學習儀器操作的時間，顯著提高工作效率，同時將更多時間用于科研領域的
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    2026-01-15
  • 什么是SMU源表?SMU源表的功能和優(yōu)勢

    什么是SMU源表?SMU源表的功能和優(yōu)勢

    SMU源表突出特點：使用一臺儀器進行多種測量 ； SMU源表功能： ①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。 ②四象限工作，可作為源或負載 SMU源表相對傳統(tǒng)電源、萬用表的優(yōu)勢： 源表相對傳統(tǒng)電源的優(yōu)勢：傳統(tǒng)
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    2026-01-15
  • 脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表

    脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表

    脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表認準普賽斯儀表，原廠直銷、服務完善！P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達10A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應用
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    2026-01-15
  • 1000A高電流脈沖電源

    1000A高電流脈沖電源

    1000A高電流脈沖電源為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（10uS）、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點。 設備可應用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合，使用該設備可以獨立完成“
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    2026-01-15
  • 光伏組件PID測試用源表

    光伏組件PID測試用源表

    光伏組件PID測試所需主要儀器為： 步入式環(huán)境測試箱； 絕緣耐壓測試儀； 接地連續(xù)性測試儀； PID測試直流電壓源（數(shù)字源表）； HALM太陽模擬器（AAA+級）； EL測試儀等。 測試所需電源需求 電源電壓：-1500V～0V/ 0～+1500V 電源時漂：≤0.3%/h
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    2026-01-15
  • LDO電性能測試用數(shù)字源表

    LDO電性能測試用數(shù)字源表

    LDO常用的電性能參數(shù)測試，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調整率、負載調整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù)，因此一般情況下，測試系統(tǒng)至少需要配置2臺SMU，并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制。 普賽斯S系列高精度數(shù)字源表，
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    2026-01-15
  • 半導體材料IV性能分析儀表

    半導體材料IV性能分析儀表

    半導體材料IV性能分析儀表認準生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯S型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā)，廠家直銷！性價比高，測試范圍更廣，輸出電壓高達300V，支持USB存儲，一鍵導出報告，符合大環(huán)境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比
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    2026-01-15
  • 半導體芯片IV性能測試儀表

    半導體芯片IV性能測試儀表

    半導體芯片IV性能測試儀表認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯儀表S型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā)，單通道，不支持脈沖輸出，觸摸屏操作，支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)；最大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，支持USB存儲，一鍵導出
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    2026-01-15
  • 射頻器件頻率特性測試SMU源表

    射頻器件頻率特性測試SMU源表

    GaNHEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。 頻率特性測試 射頻器件的頻率參數(shù)測試包含小信號S參數(shù)、互調(IMD)、噪聲系數(shù)和雜散等特性的測量。其中,S參數(shù)測試描述了RF器件在不同頻率下和對于信號的不同
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    2026-01-15
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