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電子元器件必不可少的高溫貯存試驗(yàn)

發(fā)布時(shí)間:2024-06-28 16:50:15 來源:互聯(lián)網(wǎng) 分類:電氣知識(shí)

文章摘要: 電子元器件必不可少的高溫貯存試驗(yàn)一、試驗(yàn)?zāi)康耐ㄟ^高低溫試驗(yàn)箱模擬環(huán)境溫度變化提高電子元器件環(huán)境溫度、濕度、溫度循環(huán)等適應(yīng)能力,加速元器件中可能發(fā)生或存在的化學(xué)反應(yīng)(如由水蒸氣或其他離子所引起的腐蝕作用,表層泄漏、污染以及金-鋁金屬化合物的產(chǎn)

電子元器件必不可少的高溫貯存試驗(yàn) 一、試驗(yàn)?zāi)康? 通過高低溫試驗(yàn)箱模擬環(huán)境溫度變化提高電子元器件環(huán)境溫度、濕度、溫度循環(huán)等適應(yīng)能力,加速元器件中可能發(fā)生或存在的化學(xué)反應(yīng)(如由水蒸氣或其他離子所引起的腐蝕作用,表層泄漏、污染以及金-鋁金屬化合物的產(chǎn)生等),提前消除潛在缺點(diǎn)。 電子元器件的許多故障是由于體內(nèi)和表層的各種物理化學(xué)變化引起的。當(dāng)環(huán)境溫度升高后,化學(xué)反應(yīng)速率大大加快,故障過程也得到加速。有缺點(diǎn)的元器件就會(huì)暴露。 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)對(duì)表層污染、引線鍵合不良和氧化膜缺點(diǎn)有很好的篩選作用。 二、試驗(yàn)原理 高溫儲(chǔ)存是在試驗(yàn)箱中模擬高溫條件,對(duì)元器件施加高溫應(yīng)力(無電應(yīng)力),加快部件體內(nèi)和表層各種物理化學(xué)變化的化學(xué)反應(yīng)速率,加速故障過程,使有缺點(diǎn)的部件盡快暴露;提前消除潛在缺點(diǎn)。 高溫儲(chǔ)存篩選的特色: (1) 對(duì)于工藝和設(shè)計(jì)水平較高的成熟設(shè)備,由于設(shè)備本身非常穩(wěn)定;最大的優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單易行。可大批量進(jìn)行試驗(yàn)篩選,投資少,篩選效果好,是目前常用的篩選試驗(yàn)項(xiàng)目。 (2)高溫存儲(chǔ)篩選效果,通過同溫則二存企D,穩(wěn)定元器件一流的性能,減少使用中的參數(shù)漂移。 三、試驗(yàn)設(shè)備 高低溫試驗(yàn)箱,適用于在高溫、低溫(交替)循環(huán)、恒溫變化下檢驗(yàn)基礎(chǔ)可靠性各項(xiàng)性能指標(biāo)的儀器設(shè)備。產(chǎn)品部件和材料可能在高溫下軟化、下降效率、特性變化、潛在損壞、氧化等現(xiàn)象。 四、暴露的缺點(diǎn) 元器件的電穩(wěn)定性、金屬化、硅腐蝕和引線鍵合缺點(diǎn)等。 ? 五、注意事項(xiàng) 1.溫度-時(shí)間應(yīng)力的確定。 在不損害半導(dǎo)體器件的情況下篩選溫度越高越好,因此應(yīng)盡可能提高貯存溫度。則貯存溫度需根據(jù)管殼結(jié)構(gòu)、材料性質(zhì)、組裝和密封工藝而定,同時(shí)還應(yīng)特別注意溫度和時(shí)間的合理確定。 有一種誤解認(rèn)為溫度越高、時(shí)間越長(zhǎng)篩選考驗(yàn)就越嚴(yán)格,這是錯(cuò)誤的。例如∶ 如果貯存溫度過高、時(shí)間過長(zhǎng)會(huì)加速設(shè)備的退化,破壞設(shè)備的包裝,也可能造成導(dǎo)線涂層微裂紋和導(dǎo)線氧化,使焊接性差。 確定溫度和時(shí)間對(duì)應(yīng)關(guān)系的原則是保持對(duì)部件施加力的應(yīng)力強(qiáng)度不變,即如果儲(chǔ)存溫度升高,則應(yīng)減少儲(chǔ)存時(shí)間。 對(duì)干半導(dǎo)體器件來說,最高則存溫度除了受到金屬與半導(dǎo)體材料共熔點(diǎn)溫度的限制以外,不受到器件封裝所用的鍵合經(jīng)材料. 外殼漆層及標(biāo)志而熱溫度和引線氧化溫度的限制。因此,金-鋁鍵合的器件最高貯存溫度可選150 ℃,鋁-鋁鍵合最高可選200℃,金-金鍵合器件最高可選300℃。對(duì)電容器來說,最高儲(chǔ)存溫度不僅受介質(zhì)耐熱溫度的限制,還受外殼漆層、標(biāo)志耐熱溫度和導(dǎo)線氧化溫度的限制。有些電容器也受外殼浸漬材料的限制。因此,電容器的最高儲(chǔ)存溫度一般取其正極限溫度。 2.大多數(shù)高溫儲(chǔ)存在包裝后進(jìn)行,半導(dǎo)體設(shè)備也在包裝前的圓形階段或鍵合后進(jìn)行,或在包裝前后進(jìn)行。 3.國(guó)軍標(biāo)中規(guī)定高溫貯存試驗(yàn)結(jié)束后,必須在96 小時(shí)內(nèi)完畢對(duì)元器件的測(cè)試對(duì)比。 ? ?電子元器件的高溫貯存試驗(yàn)設(shè)備,寰球質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱廠家-廣州斯派克環(huán)境儀器有限公司。原愛斯派克的技術(shù)核心,參與了日本圖紙的翻譯和樣機(jī)的國(guó)產(chǎn)化,秉承“規(guī)格嚴(yán)格,功夫到家”理念,有環(huán)試行業(yè)20年技術(shù)沉淀,10000+系統(tǒng)解決方案。恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、快速溫變?cè)囼?yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)室等所有產(chǎn)品均是高可靠、高穩(wěn)定高耐久運(yùn)行。可連續(xù)運(yùn)行10000+小時(shí)以上不停機(jī)。獨(dú)立冷控設(shè)計(jì),節(jié)能20%+,噪音低至60dB,產(chǎn)品設(shè)計(jì)使用年限超15年,提供省部級(jí)第三方檢測(cè)報(bào)告。并可根據(jù)用戶的需求定制各類非標(biāo)產(chǎn)品和服務(wù)。

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