武漢儀器/儀表

全武漢儀器/儀表信息

共找到 147 條信息
  • 高電壓大電流-半導(dǎo)體功率測試設(shè)備

    高電壓大電流-半導(dǎo)體功率測試設(shè)備

    PMST系列高電壓大電流-半導(dǎo)體功率測試設(shè)備是武漢普賽斯正向設(shè)計(jì)，精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)，是一致能夠提供IV，CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計(jì)、輕松升級擴(kuò)展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET.BJT、 IGB
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    2026-02-25
  • SMU數(shù)字源表搭建場效應(yīng)晶體管IV特性測試實(shí)驗(yàn)平臺

    SMU數(shù)字源表搭建場效應(yīng)晶體管IV特性測試實(shí)驗(yàn)平臺

    本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)?zāi)夸? 實(shí)驗(yàn)一：金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性IV特性測試實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)二：四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)三： MOS電容的CV特性測試實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)四：半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)五：激光二極管LD的LIV特性測試實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)六：太陽能電
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    2026-02-25
  • 電流響應(yīng)時間測試脈沖電源

    電流響應(yīng)時間測試脈沖電源

    普賽斯HCPL100型高電流脈沖電源為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（15us）、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。 設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合，使用該設(shè)
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    2026-02-25
  • 電流-導(dǎo)通電壓掃描測試脈沖電源300A大電流源

    電流-導(dǎo)通電壓掃描測試脈沖電源300A大電流源

    普賽斯HCPL030系列高電流脈沖電源為脈沖恒流源，產(chǎn)品具有輸出脈沖邊沿陡（10μs）、測試效率高（40ms，外部控制繼電器）、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。單臺輸出電流300A，支持至少六臺以上多設(shè)備并聯(lián)測量。設(shè)備主要針對晶圓測試，可用于300A
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    2026-02-25
  • IC電氣特性測試數(shù)字源表

    IC電氣特性測試數(shù)字源表

    普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%
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    2026-02-25
  • GaN SiC三代半功率器件測試設(shè)備

    GaN SiC三代半功率器件測試設(shè)備

    PMST系列功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是武漢普賽斯正向設(shè)計(jì)、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)，是一款能夠提供IV、 CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計(jì)、輕松升級擴(kuò)展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬
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    2026-02-25
  • 柔性傳感器電性能測試VI源表

    柔性傳感器電性能測試VI源表

    普賽斯儀表攜手業(yè)內(nèi)知名廠商共同打造的柔性電子材料測試系統(tǒng),通過組合不同動作的測試夾具,可以模擬扭、轉(zhuǎn)、彎、折、卷等5種基本測試動作, 11個基礎(chǔ)模擬測試動作,實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用,讓柔性測試標(biāo)準(zhǔn)化。不僅可以測試柔性材料的折、彎、扭、拉、卷等五種基本動作,而且可以進(jìn)行柔性材
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    2026-02-25
  • 半導(dǎo)體分立器件電性能iv測試系統(tǒng)

    半導(dǎo)體分立器件電性能iv測試系統(tǒng)

    半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)；通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復(fù)雜又耗時，還占
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    2026-02-25
  • IC芯片電特性測試數(shù)字源表

    IC芯片電特性測試數(shù)字源表

    IC芯片電特性測試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2651
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    2026-02-25
  • wat半導(dǎo)體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀

    wat半導(dǎo)體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀

    SPA-6100wat半導(dǎo)體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材
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    2026-02-25
  • 晶圓/芯片微弱電流測試VI源表

    晶圓/芯片微弱電流測試VI源表

    武漢普賽斯儀表晶圓/芯片微弱電流測試VI源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作S系列源表 應(yīng)用 分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、
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    2026-02-25
  • igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備

    igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備

    普賽斯igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢18140663476 測試項(xiàng)目 集
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    2026-02-25
  • 脈沖IV特性測試數(shù)字源表

    脈沖IV特性測試數(shù)字源表

    PXOOB系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)30A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者
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    2026-02-25
  • 晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀

    晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀

    晶體管特性圖示儀iv+cv曲線掃描儀優(yōu)勢： IV、CV一鍵測；一體機(jī)，支持遠(yuǎn)程指令控制；支持三同軸接探針臺 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試；詳詢一八一四零六六三四七六； 產(chǎn)品特點(diǎn)： 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力； 測量精度高,全量程下可
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    2026-02-25
  • 國產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線掃描儀

    國產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線掃描儀

    國產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線掃描儀認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯S系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，U秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，詳詢一八一四零六六三四七六 數(shù)字源表基本功能 集多種功能為一體的精密測量儀器，主要是測量電氣性能 SMU可以當(dāng)電源,
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    2026-02-25
  • 大功率分立器件測試設(shè)備靜態(tài)參數(shù)分析儀

    大功率分立器件測試設(shè)備靜態(tài)參數(shù)分析儀

    普賽斯分立器件靜態(tài)測試系統(tǒng)集多種測量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測量功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達(dá)10KV,電流可高達(dá)6KA。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性，uΩ級電阻，pA級電流精準(zhǔn)
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    2026-02-25
  • 雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表

    雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表

    雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表優(yōu)勢 ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作。可以限定電壓或電流輸出大小，預(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量
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    2026-02-25
  • 高精度國產(chǎn)DP300B型雙通道數(shù)字源表

    高精度國產(chǎn)DP300B型雙通道數(shù)字源表

    產(chǎn)品簡介 DPX00B雙通道高精度臺式脈沖源表是在單通道脈沖臺式源表基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，單通道最大輸出電壓達(dá)300V，最大脈沖輸出電流達(dá)30A，支持四象限工作，2個通道可獨(dú)立或組合工作。 DPX00B雙
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    2026-02-25
  • led漏電流測試高精度源表

    led漏電流測試高精度源表

    LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓
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    2026-02-25
  • 高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

    高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

    為應(yīng)對各行各業(yè)對IGBT的測試需求，武漢普賽斯正向設(shè)計(jì)、精益打造了一款高精密電壓-電流的IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，可提供IV、CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計(jì)、輕松升級擴(kuò)展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁
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    2026-02-25
  • KV級高壓電源3500V高壓程控電源

    KV級高壓電源3500V高壓程控電源

    E系列KV級高壓電源3500V高壓程控電源特點(diǎn)和優(yōu)勢： 十ms級的上升沿和下降沿； 單臺最大3500V的輸出； 0.1%測試精度； 同步電流或電壓測量； 支持程控恒壓測流，恒流測壓，便于掃描測試； 應(yīng)用領(lǐng)域： 用于IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態(tài)測試母線電容充
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    2026-02-25
  • 半導(dǎo)體器件IV+CV測試儀

    半導(dǎo)體器件IV+CV測試儀

    半導(dǎo)體器件IV+CV測試儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?，詳詢一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢：
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    2026-02-25
  • led&二極管反向漏電流測試設(shè)備

    led&二極管反向漏電流測試設(shè)備

    led&二極管反向漏電流測試設(shè)備測試項(xiàng)目 集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat 集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges 柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th) 輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容 續(xù)流二極管壓降
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    2026-02-25
  • 寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表

    寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表

    寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2
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    2026-02-25
  • 二極管&led反向擊穿電壓測試設(shè)備

    二極管&led反向擊穿電壓測試設(shè)備

    二極管&led反向擊穿電壓測試設(shè)備具有輸出及測量電壓高（3500V）、能輸出及測量微弱電流信號（1nA）的特點(diǎn)。設(shè)備工作在第一象限，輸出及測量電壓0~3500V，輸出及測量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式，同時支持豐富的I-V掃描模式。詳詢一八一四零六六三四七六； 二極管&
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    2026-02-25
  • 硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備

    硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備

    硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備優(yōu)勢 高電壓、大電流 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(最大可擴(kuò)展至10kV) 具有大電流測量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián)) 高精度測量 nA級漏電流, μΩ級導(dǎo)通電阻 0.1%精度測量 模塊化配置
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    2026-02-25
  • uApA級國產(chǎn)電流源

    uApA級國產(chǎn)電流源

    uApA級國產(chǎn)電流源認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?；詳詢一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢： 1、
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    2026-02-25
  • 國產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢

    國產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢

    國產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢 ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮。A(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更準(zhǔn)確的
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    2026-02-25
  • 大電流脈沖源表100A直流源表

    大電流脈沖源表100A直流源表

    HCP系列大電流脈沖源表100A直流源表具備直流和脈沖輸出能力，最大脈沖輸出電流100A，最大輸出電壓100V，支持四象限工作，輸出及測量精度均可達(dá)0.1%，可廣泛用于功率MOS測試、肖特二極管測試、整流橋堆測試及太陽能電池模組測試等。詳詢一八一四零六六三四七六； 應(yīng)用
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    2026-02-25
  • 光電器件特性參數(shù)分析數(shù)字源表

    光電器件特性參數(shù)分析數(shù)字源表

    光電探測器一般需要先對晶圓進(jìn)行測試,封裝后再對器件進(jìn)行二次測試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測器在工作時,需要施加反向偏置電壓來拉開光注入產(chǎn)生的電子空穴對,從而完成光生載流子過程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作;測試時比較關(guān)注暗電流、反向擊穿電壓、結(jié)電
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    2026-02-25
  • 光電二極管性能測試精密源表

    光電二極管性能測試精密源表

    光電探測器光電測試 光電探測器一般需要先對晶圓進(jìn)行測試,封裝后再對器件進(jìn)行二次測試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測器在工作時,需要施加反向偏置電壓來拉開光注入產(chǎn)生的電子空穴對,從而完成光生載流子過程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作;測試時比較關(guān)
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    2026-02-25
  • 半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀

    半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀

    半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，詳詢18140663476；普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案? S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢： 1、多功能
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    2026-02-25
  • 精密電流源直流源表

    精密電流源直流源表

    普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%
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    2026-02-25
  • 功率半導(dǎo)體測試平臺功率器件測試設(shè)備

    功率半導(dǎo)體測試平臺功率器件測試設(shè)備

    普賽斯功率半導(dǎo)體測試平臺功率器件測試設(shè)備特點(diǎn)和優(yōu)勢： 單臺Z大3500V輸出； 單臺Z大1000A輸出，可并聯(lián)后Z大4000A； 15us的超快電流上升沿； 同步測量； 國標(biāo)全指標(biāo)的自動化測試； 可定制夾具； nA級電流和uΩ級電阻測量； 測試項(xiàng)目 集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電
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    2026-02-25
  • 半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備IV曲線掃描儀器

    半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備IV曲線掃描儀器

    眾所周知，半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備IV曲線掃描儀器應(yīng)用的專業(yè)領(lǐng)域十分廣泛，分別有：微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學(xué)與工程、材料與能源、電子科學(xué)與工程、光電信息與能源工程等等等... 數(shù)字源表作為電學(xué)測量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾
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    2026-02-25
  • 電參數(shù)測量多合一數(shù)字源表

    電參數(shù)測量多合一數(shù)字源表

    分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)，通常分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復(fù)雜又耗時，又占用過多測
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    2026-02-25
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